New horizons in testing: ;atent trait test theory and computerized adaptive testing

New horizons in testing: ;atent trait test theory and computerized adaptive testing

保存先:
書誌詳細
その他の著者: WEISS, David J
フォーマット: 図書
言語:English
出版事項: New York Academic Press 1983
主題:
PSIKOLOGI, TES KECERDASAN
タグ: タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!

電子媒体

Electronic Journals Available from 2016

Campus C

予約･返却請求 Campus C
請求記号: G946.5372
O375.2728
Prefix: 5 M595.6521
注記: Item 1 holdings note 1 https://vufind.org/?f=1&b=2#sample_link
Item 2 holdings note 1 https://vufind.org/?f=1&b=2#sample_link
Item 3 holdings note 1 https://vufind.org/?f=1&b=2#sample_link
Item 3 holdings note 2
所蔵巻号: Item 1 summary 1
Item 2 summary 1
Item 2 summary 2
Item 2 summary 3
Item 3 summary 1
所蔵 1 (volume 1, issue 1) Item in Library 予約する
注記:
  • Item 1 note 1
所蔵 2 (volume 1, issue 2) Item in Library 予約する
注記:
  • Item 2 note 1
所蔵 3 (volume 1, issue 3) Item in Library 予約する
注記:
  • Item 3 note 1
  • Item 3 note 2

最新受領資料

issue 1
issue 2
issue 3

類似資料